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场离子显微术(Field Ion Microscopy,FIM)

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发布日期:[2009-3-15]    共阅[3287]次 中国电气市场采购网[EM39.com] {鼠标双击自动滚屏}
      场离子显微术(Field Ion Microscopy,FIM)

FIM 是于1951 年由Muller 所发明,其前身乃场发射显微术(Field Emission
Microscopy,FEM)。FEM在1936 年被发明,Müller 为了观察此种场电子的角分布图像,
于是将针尖状的发射体(emitter)置于玻璃制球形真空腔中心作为阴极,发射体对面玻
璃壁上镀上一层透明的导体物质,其上再覆以磷光剂作为阳极。当一个大负电压加在针
上时,由于尖端效应,针尖上产生很强的负电场,电子便能被发射出来。结果发现,发
射出来的场电子沿径向(表面电场方向)飞行,撞击荧光幕后所产生的亮点可显现尖点
表面结构图像。1951 年,穆勒将前面所述的场电子显微镜之二极反接,隐约中见到解像
力较好的模糊影像。后来他再充入10-3torr(1torr=1mm 水银柱高的气压)的氢气于真
空腔中,发现当正电场达2×108V/cm∼3×108V/cm 时,磷光幕上呈现原子解像力的结
构图像。这也是人类第一次肉眼观察到原子的影像,于是引起许多实验者极大的兴趣。
后来才了解这是由于发生场游离(field ionization)所形成的现象。FIM 即是利用将高正
电压加在针尖上,产生很强的正电场,藉此来游离氦或氖原子,被游离出来的正离子因
为正电场而被加速射向屏幕,因而得到影像。

其中FIM 有两个限制:

1.它只适用在某些能制成针的金属

2.需在真空中及液态氮或液态氦的低温下操作。相较之下,SPM 的限制就少很多。


来源:www.elecfans.com

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